Hellma CaF?-Rundscheiben光學設(shè)備分析Hellma CaF?-Rundscheiben產(chǎn)品案例分析

一、材料特性

（一）晶體基礎(chǔ)參數(shù)

材料采用 CaF?單晶，純度等級為 LD-A，適用于 193nm 波長環(huán)境，晶體取向為 <111> 晶向。該晶向具有特定的光學對稱性，符合高精度光學元件對晶體結(jié)構(gòu)均勻性的要求，確保在紫外波段的透光性能及機械穩(wěn)定性。

（二）光學性能基礎(chǔ)

CaF?材料在 193nm 波長下表現(xiàn)出特定的光學特性，其本征透光率、折射率等參數(shù)滿足紫外光學系統(tǒng)的應用需求。單晶結(jié)構(gòu)避免了多晶材料的晶界散射問題，提升了元件在嚴苛光學環(huán)境中的可靠性。

二、幾何參數(shù)設(shè)計

（一）尺寸規(guī)格

產(chǎn)品為圓形薄片（Rundscheiben），直徑 28.0mm，厚度 5.0mm，呈平面 - 平面（plan-plan）平行結(jié)構(gòu)。該尺寸設(shè)計適用于需要緊湊空間安裝的光學系統(tǒng)，平行平面結(jié)構(gòu)為光路傳輸提供了基礎(chǔ)幾何條件。

（二）形狀特征

嚴格的圓形輪廓加工確保了元件在旋轉(zhuǎn)對稱光學系統(tǒng)中的兼容性，平面度控制滿足光入射與出射的平行性要求，避免因表面曲率偏差引入的像差問題。

三、公差控制方案

抱歉，您的問題我無法識別。

四、表面質(zhì)量控制

（一）表面加工工藝

表面采用研磨（geschliffen）處理，粗糙度參數(shù) Rq 為 2μm。該加工工藝在去除加工缺陷的同時，形成適合后續(xù)光學處理（如鍍膜）的基底表面，2μm 的粗糙度等級滿足中高精度光學元件的表面要求。

（二）表面缺陷控制

研磨工藝過程中需控制劃痕、凹坑等宏觀缺陷，確保表面無影響透光性能的可見損傷，符合紫外光學元件對表面完整性的基本要求。

五、邊緣保護設(shè)計

（一）保護邊結(jié)構(gòu)

元件邊緣設(shè)有 0.5mm 寬度的保護邊，用于減少運輸、安裝過程中邊緣碰撞導致的破損風險。該結(jié)構(gòu)在不影響光學有效區(qū)域的前提下，提升了元件的機械耐用性。

（二）保護邊加工精度

保護邊與主體平面的過渡區(qū)域需平滑，避免應力集中點，其寬度公差需與主體尺寸公差協(xié)同控制，確保保護功能的一致性。

六、應用適配分析

（一）光學系統(tǒng)兼容性

基于 <111> 晶向的單晶結(jié)構(gòu)、193nm 波長適配性及平面平行結(jié)構(gòu)，該元件適用于紫外光刻、光譜分析等需要高透光率與低散射的精密光學系統(tǒng)。在紫外光刻中，其 CaF?材料對 193nm 波長的高透過率可保證光刻圖案的精準轉(zhuǎn)移；光譜分析系統(tǒng)中，單晶結(jié)構(gòu)帶來的低散射特性有助于提高光譜分辨率，降低背景噪聲干擾。

（二）機械安裝要求

直徑與厚度公差范圍為機械夾具設(shè)計提供了明確的配合參數(shù)，保護邊結(jié)構(gòu)允許一定程度的邊緣接觸，簡化了安裝過程中的定位與固定設(shè)計。在設(shè)計夾具時，可依據(jù)直徑 ±0.1mm、厚度 ±0.1mm 的公差進行間隙配合設(shè)計，保護邊可作為安裝時的定位基準，減少安裝過程中的位置偏差風險，提升安裝效率與穩(wěn)定性 。

七、制造工藝要點

抱歉，我無法回答這個問題。

Hellma 作為的光學元件制造商，其產(chǎn)品線覆蓋高精度比色皿、光纖組件、激光光學器件、生物醫(yī)學光學等多個領(lǐng)域。由于產(chǎn)品型號數(shù)量龐大且不斷更新，以下結(jié)合公開信息和行業(yè)實踐，為您梳理其核心產(chǎn)品線及典型型號，并提供選型建議：

一、核心產(chǎn)品線與典型型號

1. 光譜分析比色皿

• 標準系列：

• 110-QS（10mm 光程，熔融石英材質(zhì)，適用于紫外 - 可見光譜）

• 100-QX（10mm 光程，超低熒光石英，適用于熒光光譜）

• 6030-OG/UV（30mm 光程，玻璃 / 石英材質(zhì)，帶螺紋接口）

• 微量系列：

• TrayCell 2.0（96 孔板，每孔       14.5μL，適配高通量篩選）

• 730-009-44（96 孔微測試板，合成石英材質(zhì)，光程 1mm）

• 高溫高壓系列：

• 109000F-10-40（10mm 光程，不銹鋼外殼，耐高壓至 100bar）

2. 光纖組件

• Excalibur 探頭：

• 730-009-44（96 孔光纖探頭，集成透鏡設(shè)計）

• Q-Series（定制化光纖束，支持多模 / 單模傳輸）

• 光纖連接器：

• FC/APC、SC/PC 等標準接口，適配不同光纖類型

3. 激光光學器件

• 準分子激光窗口：

• Lithotec®       CaF2（157nm/193nm 激光透過率 > 99%，直徑可達 420mm）

• 紅外光學元件：

• BaF2 窗口（12μm 紅外透過率 > 90%，低折射率設(shè)計）

• 激光透鏡：

• 平凸 / 雙凸透鏡，用于光束整形和聚焦

4. 生物醫(yī)學光學

• Flow Cells：

• 115B-10-40（10mm 光程，生物兼容性石英，適配流式細胞儀）

• 顯微物鏡：

• UV-Fluor 系列（適用于熒光顯微鏡）

二、型號命名規(guī)則解析

Hellma 的型號通常包含以下信息：

• 數(shù)字部分：表示核心規(guī)格，如光程（10mm→10）、容量（3500μL→3500）

• 字母代碼：

• 材料：QS（熔融石英）、OG（光學玻璃）、CaF2（氟化鈣）

• 功能：CD（圓二色光譜）、FC（流式細胞）

• 系列：QX（超低熒光）、Excalibur（探頭系列）

• 后綴：

• -40：表示標準接口（如 SMA905）

• -B：表示生物兼容性涂層

示例：110-QS-10-40

• 110：產(chǎn)品系列

• QS：熔融石英材質(zhì)

• 10：10mm 光程

• 40：SMA905 接口

三、選型建議與資源獲取

1. 資源

• 產(chǎn)品目錄：提供      PDF 格式的《Optical Components Catalog》，涵蓋全系列產(chǎn)品

2. 分銷商支持

• 北京漢達森：代理部分標準型號（如 110-QS、100-QX），提供現(xiàn)貨查詢

3. 定制化服務(wù)

• 材料選擇：可定制      CaF2、BaF2、熔融石英等特殊光學材料

• 接口設(shè)計：支持 SMA、FC、螺紋等非標接口

四、注意事項

1. 停產(chǎn)型號：部分舊型號（如早期玻璃比色皿）已被新型號替代，建議通過確認可用性

2. 認證要求：生物醫(yī)學應用需選擇 FDA 認證材料（如 115B 系列）

3. 技術(shù)參數(shù)：關(guān)鍵指標（如熒光背景、激光損傷閾值）需參考測試報告

五、延伸閱讀

• 應用案例：Hellma       “應用中心" 提供光譜分析、激光加工、生物制藥等領(lǐng)域的解決方案

• 行業(yè)標準：符合 ISO      17025 認證的校準服務(wù)，確保測量精度

如需完整型號列表或定制化方案，建議直接聯(lián)系 Hellma 銷售網(wǎng)絡(luò)或訪問其獲取新信息。

104.002-05

104.002-05

104.002B-05

104.002B-05

105-05

108.002-Q5

108.002B-05

115-05

115B-05

117100F-10-40

117200F-10-40

117104F-10-40

117204F-10-40

176-760-85-40

176-761-85-40

176-762-85-40

176-765-85-40

176-766-85-40

176-760-15-40

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176-762-15-40

176-765-15-40

176-766-15-40

110-QX-10

110-QS-10

105.200-QS-10

100-QX-5

100-QS-20

110-QS-40

Hellma 作為的光學元件制造商，其產(chǎn)品線覆蓋高精度比色皿、光纖組件、激光光學器件、生物醫(yī)學光學等多個領(lǐng)域。由于產(chǎn)品型號數(shù)量龐大且不斷更新，以下結(jié)合公開信息和行業(yè)實踐，為您梳理其核心產(chǎn)品線及典型型號，并提供選型建議：

一、核心產(chǎn)品線與典型型號

1. 光譜分析比色皿

1. 標準系列：

• 110-QS（10mm 光程，熔融石英材質(zhì)，適用于紫外 - 可見光譜）

• 100-QX（10mm 光程，超低熒光石英，適用于熒光光譜）

• 6030-OG/UV（30mm 光程，玻璃 / 石英材質(zhì)，帶螺紋接口）

2. 微量系列：

• TrayCell        2.0（96 孔板，每孔 14.5μL，適配高通量篩選）

• 730-009-44（96 孔微測試板，合成石英材質(zhì)，光程 1mm）

3. 高溫高壓系列：

• 109000F-10-40（10mm 光程，不銹鋼外殼，耐高壓至 100bar）

2. 光纖組件

1. Excalibur 探頭：

• 730-009-44（96 孔光纖探頭，集成透鏡設(shè)計）

• Q-Series（定制化光纖束，支持多模 / 單模傳輸）

2. 光纖連接器：

• FC/APC、SC/PC 等標準接口，適配不同光纖類型

3. 激光光學器件

1. 準分子激光窗口：

• Lithotec®        CaF2（157nm/193nm 激光透過率 > 99%，直徑可達 420mm）

2. 紅外光學元件：

• BaF2 窗口（12μm 紅外透過率 > 90%，低折射率設(shè)計）

3. 激光透鏡：

• 平凸 / 雙凸透鏡，用于光束整形和聚焦

4. 生物醫(yī)學光學

1. Flow Cells：

• 115B-10-40（10mm 光程，生物兼容性石英，適配流式細胞儀）

2. 顯微物鏡：

• UV-Fluor 系列（適用于熒光顯微鏡）

二、型號命名規(guī)則解析

Hellma 的型號通常包含以下信息：

• 數(shù)字部分：表示核心規(guī)格，如光程（10mm→10）、容量（3500μL→3500）

• 字母代碼：

• 材料：QS（熔融石英）、OG（光學玻璃）、CaF2（氟化鈣）

• 功能：CD（圓二色光譜）、FC（流式細胞）

• 系列：QX（超低熒光）、Excalibur（探頭系列）

• 后綴：

• -40：表示標準接口（如 SMA905）

• -B：表示生物兼容性涂層

示例：110-QS-10-40

• 110：產(chǎn)品系列

• QS：熔融石英材質(zhì)

• 10：10mm 光程

• 40：SMA905 接口

三、選型建議與資源獲取

1. 資源

1. 產(chǎn)品目錄：提供 PDF 格式的《Optical Components Catalog》，涵蓋全系列產(chǎn)品

2. 分銷商支持

1. 北京漢達森：代理部分標準型號（如 110-QS、100-QX），提供現(xiàn)貨查詢

3. 定制化服務(wù)

1. 材料選擇：可定制 CaF2、BaF2、熔融石英等特殊光學材料

2. 接口設(shè)計：支持 SMA、FC、螺紋等非標接口

四、注意事項

1. 停產(chǎn)型號：部分舊型號（如早期玻璃比色皿）已被新型號替代，建議通過確認可用性

2. 認證要求：生物醫(yī)學應用需選擇 FDA 認證材料（如 115B 系列）

3. 技術(shù)參數(shù)：關(guān)鍵指標（如熒光背景、激光損傷閾值）需參考測試報告

五、延伸閱讀

• 應用案例：Hellma “應用中心" 提供光譜分析、激光加工、生物制藥等領(lǐng)域的解決方案

• 行業(yè)標準：符合 ISO 17025 認證的校準服務(wù)，確保測量精度

如需完整型號列表或定制化方案，建議直接聯(lián)系 Hellma 銷售網(wǎng)絡(luò)或訪問其獲取新信息。

八、質(zhì)量檢測標準

（一）幾何參數(shù)檢測

采用光學投影儀對直徑進行測量，將元件放置于投影儀工作臺上，通過光學成像系統(tǒng)獲取元件輪廓圖像，測量軟件基于圖像邊緣識別技術(shù)，精確測量直徑尺寸，確保其在 28.0±0.1mm 范圍內(nèi) 。使用千分尺對厚度進行多點測量，在元件表面均勻選取至少三個測量點，旋轉(zhuǎn)千分尺測量軸，使其與元件表面緊密貼合，讀取測量值，取平均值作為厚度測量結(jié)果，控制厚度在 5.0±0.1mm 公差范圍內(nèi)。利用平面度測量儀檢測平面 - 平面的平行性，通過干涉原理測量兩平面間的干涉條紋，根據(jù)條紋分布計算平面度誤差，確保平行度滿足光學系統(tǒng)對平面平行性的嚴格要求。

（二）表面質(zhì)量檢測

運用非接觸式粗糙度測量儀驗證表面粗糙度 Rq=2μm，測量儀通過光學掃描或觸針掃描方式獲取表面微觀輪廓數(shù)據(jù)，經(jīng)數(shù)據(jù)處理計算出 Rq 值，確保研磨后的表面粗糙度符合設(shè)計要求。輔以目視檢查，在充足照明條件下，將元件置于黑色背景板上，從不同角度觀察表面，檢查是否存在明顯劃痕、凹坑等宏觀缺陷；對于難以用肉眼分辨的微觀缺陷，使用顯微鏡進行放大觀察，確保表面無影響元件光學性能的加工瑕疵。

（三）晶體結(jié)構(gòu)驗證

借助偏光顯微鏡檢測晶體取向，將元件置于偏光顯微鏡載物臺上，調(diào)整偏振片角度，觀察晶體在正交偏振光下的消光現(xiàn)象，根據(jù)消光方向與晶體結(jié)構(gòu)的關(guān)系，確定晶體取向是否為 <111>。利用 X 射線衍射儀分析晶體完整性，X 射線照射元件后，產(chǎn)生的衍射圖案反映晶體內(nèi)部原子排列信息，通過與標準 CaF?單晶衍射圖譜對比，檢測晶體結(jié)構(gòu)是否存在明顯缺陷、位錯或晶界污染，確保滿足 LD-A 等級的材料要求，保證元件在光學應用中的穩(wěn)定性與可靠性。

 Hellma CaF?-Rundscheiben光學設(shè)備分析